全浮地式設(shè)計,具有出色的穩(wěn)定性和精確度,具備所有基礎(chǔ)電化學以及電分析測試功能。
● 多種功能方法,包含OCP,恒電位,恒電流,極化曲線,CV,LSV,DPV等
● 電壓控制范圍:±10V,槽壓為±21V
● 電流控制范圍:±2.0A
● 電位分辨率:10μV,電流分辨率:1pA(可延伸至100fA)
● 適合電分析、常規(guī)電化學測試領(lǐng)域
產(chǎn)品介紹
CS電化學工作站采用全浮地式設(shè)計,具有出色的穩(wěn)定性和精確度,先進的硬件和功能完善的軟件,為涉及能源、材料、生命科學、環(huán)保等領(lǐng)域的科技工作者提供了優(yōu)秀的科研平臺。
應(yīng)用
(1)能源材料(鋰離子電池、太陽能電池、燃料動力電池和超級電容器等)、先進功能材料以及傳感器的性能研究;
(2)電化學分析研究;
(3)電合成、電沉積(電鍍)、陽極氧化、電解等反應(yīng)機理研究;
(4)金屬材料的腐蝕行為研究與耐蝕性評價;
(5)緩蝕劑、水質(zhì)穩(wěn)定劑、涂層以及陰極保護效率的快速評價。
硬件特點
● 雙通道相關(guān)分析器和雙通道高速16bit /高精度24bit AD轉(zhuǎn)換器
● 內(nèi)置FRA頻響分析儀,頻率范圍 10μHz ~1MHz
● 高帶寬高輸入阻抗的放大器
● 內(nèi)置FPGA DDS信號合成器
● 高功率恒電位儀/恒電流儀/零電阻電流計
● 電壓控制范圍:±10V,槽壓為±21V
● 電流控制范圍:±2.0A
● 電位分辨率:10μV,電流分辨率:1pA(可延伸至100fA)
軟件特點
① 數(shù)據(jù)分析
伏安曲線的平滑、積分和微分運算,計算各氧化還原峰的峰電流、峰電位和峰面積等;
極化曲線的三參數(shù)或四參數(shù)動力學解析,計算Tafel斜率ba,bc,腐蝕電流密度icorr,極限擴散電流、極化電阻Rp和腐蝕速率等,還可由電化學噪聲譜計算功率譜密度、噪聲電阻Rn和譜噪聲電阻Rsn(f)。
② 實時存儲
CS Studio實時存儲測量數(shù)據(jù),即使因斷電導致測試中斷,中斷之前的數(shù)據(jù)也會自動保存。
③ 定時測量
CS Studio測試軟件具有定時測量功能, 對于某些需要研究體系隨時間變化特征時,可提前設(shè)好測試參數(shù)與間隔時間,讓儀器在無人值守下自動定時測量,為實驗提供方便。
技術(shù)優(yōu)勢
①極化曲線
具有線性極化和Tafel極化曲線測量功能,用戶可設(shè)定循環(huán)極化曲線的陽極回掃電流(鈍化膜擊穿電流),來確定材料的點蝕電位和保護電位,評價晶間腐蝕敏感性。軟件采用非線性擬合算法解析極化曲線,可用于材料耐蝕性和緩蝕劑性能的快速評價。
② 伏安分析
能完成線性掃描伏安(LSV)、循環(huán)伏安(CV)、階梯伏安(SCV)、方波伏安(SWV)、差分脈沖伏安(DPV)、交流伏安(ACV)、溶出伏安等多種電分析方法,集成峰面積、峰電流計算和標準曲線分析功能。
③ 電化學噪聲
采用高阻跟隨器和零阻電流計測量腐蝕體系自發(fā)的電位與 電流波動,可用于點蝕、電偶腐蝕、縫隙腐蝕和應(yīng)力腐蝕開裂 等局部腐蝕研究。通過噪聲譜分析,可評估亞穩(wěn)態(tài)蝕點或裂紋的誘導、生長和死亡過程;谠肼曤娮韬忘c蝕指數(shù)計算,也可用于局部腐蝕監(jiān)測。
④全浮地測量
CS系列電化學工作站采用全浮地式工作電極,可用于工作電極本身接地體系的電化學研究,如用于高壓釜電化學測試(釜體接地),大地中金屬構(gòu)件(橋梁、混凝土鋼筋)的在線腐蝕研究等。
⑤正反饋IR補償
啟動IR補償后,電化學工作站會增加一個額外模擬反饋路徑,通過測量電解池電流,啟用正反饋補償,硬件電路增加反饋信號,自動對Rs上的壓降進行補償。
⑥自定義方法
支持用戶自定義組合測量,用戶可以設(shè)定定時循環(huán)進行某一測試方法或多種方法的組合測試,用于無人值守下的定時自動測量;
提供API通用接口函數(shù)和開發(fā)實例,方便用戶二次開發(fā)和自定義測試方法;
提供用戶自定義腳本編寫范例,用于實現(xiàn)您獨特的電化學實驗技術(shù)。
技術(shù)指標
硬件參數(shù)指標
恒電位控制范圍:±10V |
恒電流控制范圍:±2.0A |
電位控制精度:0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV |
電流控制精度:0.1%×滿量程讀數(shù) |
電位靈敏度:10μV(>100Hz), 3μV(<10Hz) |
電流靈敏度:1pA |
電位上升時間:﹤1μS(<10mA),<10μS(<2A) |
電流量程:2nA~2A, 共10檔 |
參比電極輸入阻抗:1012Ω||20pF |
最大輸出電流:2.0A |
槽壓輸出:±21V |
電流掃描增量:1mA @1A/mS |
CV和LSV掃描速度:0.001mV~10000V/s |
電位掃描電位增量:0.076mV @1V/mS |
CA和CC脈沖寬度:0.0001~65000s |
DPV和NPV脈沖寬度:0.0001~1000s |
SWV頻率:0.001~100KHz |
CV的最小電位增量:0.020mV |
AD數(shù)據(jù)采集:16bit@3.6MHz,20bit @1KHz |
電流與電位量程:自動設(shè)置 |
DA分辨率:16bit,建立時間:1μS |
低通濾波器 :8段可編程 |
通訊接口:USB2.0、RJ45網(wǎng)口 |
儀器重量:7.6Kg |
外形尺寸(cm):36.4(W)*32.0(D)*13.8(H) |
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配置
1)儀器主機1臺
2) CS Studio測試與分析軟件1套
3)模擬電解池1個
4)電源線/USB數(shù)據(jù)線各1條
5)電極電纜線1條
6)電腦(選配*)
功能方法
CS單通道系列不同型號功能方法比較
功能方法 |
CS150M |
CS300M |
CS310M |
CS350M |
穩(wěn)態(tài)極化 |
開路電位(OCP) |
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恒電位極化(i-t曲線) |
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恒電流極化 |
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動電位掃描(Tafel曲線) |
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動電流掃描(DGP) |
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電位掃描-階躍 |
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暫態(tài)極化 |
任意恒電位階梯波 |
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任意恒電流階梯波 |
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恒電位階躍(VSTEP) |
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恒電流階躍(ISTEP) |
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計時分析 |
計時電位法(CP) |
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計時電流法(CA) |
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計時電量法(CC) |
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伏安分析 |
線性掃描伏安(LSV) |
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線性循環(huán)伏安(CV) |
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階梯循環(huán)伏安(SCV) |
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方波伏安(SWV) |
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差分脈沖伏安(DPV) |
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常規(guī)脈沖伏安(NPV) |
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差分常規(guī)脈沖伏安(DNPV) |
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交流伏安(ACV) |
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二次諧波交流伏安(SHACV) |
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傅里葉變換交流伏安(FTACV) |
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電流檢測 |
差分脈沖電流檢測(DPA) |
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雙差分脈沖電流檢測(DDPA) |
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三脈沖電流檢測(TPA) |
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積分脈沖電流檢測(IPAD) |
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溶出伏安 |
電位溶出分析(PSA) |
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線性掃描溶出伏安(LSSV) |
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階梯溶出伏安(SCSV) |
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方波溶出伏安(SWSV) |
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差分脈沖溶出伏安(DPSV) |
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常規(guī)脈沖溶出伏安(NPSV) |
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差分常規(guī)脈沖溶出伏安(DNPSV) |
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交流阻抗 |
頻率掃描-電位控制模式(EIS-V) |
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頻率掃描-電流控制模式(EIS-I) |
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電位掃描(IMPE,Mott-Schotty) |
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時間掃描-電位控制模式 |
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時間掃描-電流控制模式 |
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充放電測試 |
電池充放電 |
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恒電流充放電(GCD) |
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恒電位充放電 |
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恒電位間歇滴定技術(shù)(PITT) |
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恒電流間歇滴定技術(shù)(GITT) |
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雙恒測量 |
氫擴散測試(HDT) |
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盤環(huán)電極測試 |
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擴展測量 |
電化學噪聲(EN) |
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電偶腐蝕測量(ZRA) |
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電化學溶解/沉積 |
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控制電位電解庫倫法(BE) |
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動電位再活化法(EPR) |
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溶液電阻測量 |
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循環(huán)極化曲線(CPP) |
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注:*氫擴散及旋轉(zhuǎn)盤環(huán)電極測試需配置CS1002恒電位/恒電流儀或采用CS2350M雙恒電位儀。
*產(chǎn)品3年質(zhì)保。
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